為滿足新能源,新材料,電子半導體和集成電路,深海,太空,生命科學,考古等熱門領域的高分辨率成像和全面分析的需求,蔡司全新推出的場發射掃描電鏡Sigma 360和Sigma 560,傳承GEMINI電子鏡筒的優良性能,將會是材料研究、生命科學和工業檢測等領域的 “全能多面手”。蔡司致力于和用戶一起攜手共進,推動科學發展與行業進步。
高分辨
GEMINI電子光學技術再度升級,分辨率進一步提升,低電壓效果更加優秀,讓您的高分辨成像工作更加得心應手。
全分析
可配置多種分析手段,獲取樣品全面信息。全新NanoVP Lite保證低真空EDS分析精度電子通道襯度成像(ECCI)分析樣品內部缺陷,無漏磁物鏡搭配EBSD,實現高精度晶體取向分析,Raman-SEM聯用系統,輕松實現高精度原位拉曼分析
多擴展
超強的擴展兼容性,為您拓展電鏡應用新維度。它可以是您的全自動原位實驗平臺,可以是您的冷凍傳輸分析系統,也可以是您的高精度電子束直寫(EBL)平臺,還可以是您的原位電化學分析工作站,等等。
強智能
智能軟件不能少,帶您解鎖掃描電鏡新玩法。SmartSEM Touch定制軟件為您帶來觸屏式、流程化的拍攝與自動拼圖體驗,操作高效又安全;ZEN軟件讓圖像處理等量化分析工作更加自動、智能;Connect模塊可輕松實現光電關聯,一站式解決您的定位難題。
廣應用
廣泛的應用適用性,無論是材料科學研究、工業檢測,還是生命科學領域;無論是金屬、聚合物,還是陶瓷、礦石;無論是不導電樣品、電子束敏感樣品,還是磁性樣品;無論是半導體材料、鋰電池材料,還是生物樣品,它行行全覆蓋,樣樣都拿手。
磁性材料
納米材料
半導體材料
生命科學
科研設備丨半導體材料丨高精度檢測丨清潔度檢測丨激光刻蝕丨光柵刻蝕丨離子刻蝕丨等離子清洗丨半導體檢驗丨蔡司電鏡丨材料科研丨二維刻蝕丨傾角刻蝕丨3維超景深丨掃描電鏡丨失效分析丨共聚焦顯微鏡 XML地圖