單腔體脈沖激光沉積系統-PLD
PLD工藝生長腔
? 選用圓球形或圓柱形腔體,極限真空度優于 5 x 10-8 mbar
? 腔體法蘭口包括:主抽氣口、樣品臺、靶臺、工藝進氣口、全量程真空計、工藝真空計、RHEED 電子槍、熒光屏、觀察窗等,也可以預留其他法蘭口,比如紅外測溫、等離子體源、磁控濺射源等
? 腔體支持真空烘烤,最高烘烤溫度可達200 度
? 快開門維護法蘭
? 多角度觀察窗,兼顧腔內各核心部件觀測
PLD樣品臺
樣品臺采用多種加熱方式,包括電阻式加熱,輻射式加熱,紅外激光加熱;
電阻式加熱樣品臺
? 樣品區域: 最大2英寸/15 x 18 mm方形區域(適用于旗型樣品托);
? 最高加熱溫度:1000°C;
? 加熱器可整體插拔傳送;
? XYZ三維位置可調;
? K-type熱電偶測溫;
輻射式加熱樣品臺
? 樣品區域: 最大2英寸;
? 最高加熱溫度:1000°C(鉑銠合金加熱絲,抗氧壓);
? 樣品實際溫度可達800°C,襯底無需銀膠固定;
紅外激光加熱樣品臺
? 樣品區域: 最大1英寸;
? 激光器:980 nm固體紅外激光器,光纖導入;
? 最高加熱溫度:1400°C;
? SiC夾層K-type熱電偶或者光學紅外測溫;
? XYZ三維位置可調;
PLD靶臺
? 靶位:4/5/6 x 最大1英寸;
? 程控公自轉設計;
? 靶位自動選取;
? 靶臺整體取放或單獨靶托取放;
? XYZ多軸運動可選;
PLD工藝氣路
? 全金屬密封質量流量計;
? 分子泵旁抽/閘板閥限制抽速,流量計PID控壓,或碟閥控壓;
? Ar/N2/O2多種氣體混合方式可選;
? 支持靜態/動態退火工藝
激光光路
? 根據脈沖激光沉積系統和實驗室場地的實際尺寸具體設計;
? 利用幾何光學成像原理在光路上放置有光闌、反射鏡和透鏡;
? 光路被完整限制在亞克力有機玻璃包裹的鋁型材框架內;
? 入射高度/焦距/角度根據系統和實驗室空間設計;
? 激光器可融入光路內,節省空間;
? 出射光斑和強度優化;
光路拓展
? 合理配置光路系統可有效提高激光器效率;
? 具體分光光路可根據實驗室實際空間尺寸確認;
? 我們可提供成套解決方案;
? 設備尺寸小,操作簡單,可以和國內外其他品牌的脈沖激光沉積系統配合,如荷蘭TSST、美國Neocera、日本Pascal、德國Surface,俄羅斯Bluewave,美國NBM、以及各國產廠家生產的相關脈沖激光沉積系統。
配置項目 | PLD-S35 | PLD-S40 | |
PLD工藝腔體 | |||
腔體尺寸 | 球形腔體,直徑:350 mm | 圓柱形腔體,直徑:400 mm | |
樣品尺寸 | 1 英寸或 2 英寸向下兼容 | ||
樣品加熱 | 輻射式加熱 / 電阻式加熱 / 激光加熱 1000 ℃ / 900 ℃ / 1200 ℃ | ||
靶臺操控 | 4 靶位,1 英寸靶托,公自轉設計 | ||
抽氣泵組 | 國產: BWVAC油泵,360 l/min KYKY分子泵,600 l/s | ||
進口:Pfeiffer分子泵,355 l/s Leybold干泵,14.5 m3/h | 進口:Leybold干泵,550 l/s Leybold干泵,14.5 m3/h | ||
真空測量 | 國產:Reborn電阻電離復合規 | ||
進口:Inficon MPG400復合規 + CDG025D薄膜規 | |||
氣路 | 國產:質量流量計Flowmethod,50 / 100 sccm | ||
進口:質量流量計MKS,50 / 100 sccm | |||
控壓方式 | 手動角閥/漏閥控壓 | ||
極限真空 | 5 x 10-8 mbar | ||
光路系統 | |||
光路支架 | 根據用戶現場情況定制 | ||
控制系統 | |||
軟件控制 | 動作程序控制,軟件編程控制工藝,設備全套互鎖 |
科研設備丨半導體材料丨高精度檢測丨清潔度檢測丨激光刻蝕丨光柵刻蝕丨離子刻蝕丨等離子清洗丨半導體檢驗丨蔡司電鏡丨材料科研丨二維刻蝕丨傾角刻蝕丨3維超景深丨掃描電鏡丨失效分析丨共聚焦顯微鏡 XML地圖