SEM3300是全新一代鎢燈絲掃描電子顯微鏡，分辨率優于 2.5 nm。特殊的電子光路設計，突破鎢燈絲分辨率極限，在低電 壓 1 kV 下，達到 5 nm 的分辨率。 擁有出色的成像質量、在不同的視場范圍下均可得到高分 辨率圖像。大景深，成像富有立體感。豐富的擴展性，助您在顯 微成像的世界中盡情探索。

1) 電子槍：預對中型發叉式鎢燈絲電子槍

2) 分辨率：2.5 nm @ 20 kV，SE；4 nm @ 3 kV，SE；5 nm @ 1 kV，SE；4 nm @ 30 kV，BSE；

3) 加速電壓范圍：0.1 kV～30 kV；

4) 放大倍數范圍：1 x～300000 x

主要用于形貌觀察、顯微結構分析、斷口形貌分析，在材料、地質、礦產、冶金、機械、化學、化工、物理、電子、生物、醫學等領域都有廣泛的用途。

產品優勢

碳納米管50,000x @1KV Inlens-SE

隔膜15,000 @1KV Inlens-SE

金顆粒100,000x @20KV Inlens-SE

規格書

型