蔡司 EVO 系列
模塊化的 SEM 平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應用
EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起, 同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學, 材料科學, 或例行的工業質量保證和失效分析領域,憑借廣泛的可選配置, EVO 都可以根據您的要求量身定制。
· 質量分析/質量控制
· 失效分析/金相分析
· 清潔度檢查
· 顆粒的形態和化學分析, 以滿足 ISO 16232 和 VDA 19 中1和2的標準
· 非金屬夾雜物的分析
鋅磷酸鹽電涂層, 高真空模式下使用 SE 探測器成像
汽車座椅墊泡沫, 可變真空模式下使用BSE探測器成像,樣品未噴涂導電層
不銹鋼斷口表面, 高真空模式二次電子成像
· 目視檢查電子元件、集成電路、MEMS 器件和太陽能電池
· 銅絲表面及晶體結構的研究
· 金屬腐蝕研究
· 斷面失效分析
· Wire bonding線腳檢查
· 電容表面成像
Wire bond檢查,在高真空或可變真空模式下用二次電子成像
鎳層腐蝕的二次電子成像
二次電子圖像觀察的在電子產品上生長的晶須
· 對金屬樣品和夾雜物的結構、化學和結晶學進行成像和分析
· 相、顆粒、焊縫和失效分析
鍍鋅低碳鋼的剖面, 使用 EVO 15 上的二次電子探測器進行成像
用F80砂礫鋁粉噴砂后的S355鋼表面
采用選擇性激光熔化的方法制備的鈦合金 (Ti-6Al-4V)的表面, 能夠看出充分熔化區域的旁邊有未融化的 Ti-6Al-4V 粒子和其他材料
· 地質樣品的形態、礦物學和成分分析
· 對金屬、斷裂和非金屬夾雜物的結構進行成像和分析
· 微粉化和造粒過程中原料化學成分和活性成份的形態和成分分析
藍片巖礦物圖,樣品由S. Owen 提供
贊比亞大型銅冶煉廠剩余的銅渣顆粒,樣品由英國 Petrolab 提供
加拿大魁北克北部的花崗巖, 含有稀土元素, 包括貫穿樣品的螢石脈和部分區域的鋯石
· 用于研究導電和不導電材料樣品的特征
自愈合礦物的擴展和裂紋架橋網絡, 形成了類似花狀的水鎂礦結構,在12kV下使用二次電子探測器成像
電池組件中的石墨烯泡沫結構, 在高真空下使用 二次電子探測器成像
航空航天復合材料,在10 kV可變壓力模式下使用 C2D 探測器成像
· 對植物、動物和微生物的研究
葉子表面發霉的偽色圖像。在20kV, 1°C /570Pa水蒸氣條件下使用 C2DX 探測器成像
偽蝎的細節特征, 在 20 kV高真空模式下使用BSE成像
在接近100% 相對濕度下, 在擴展壓力模式使用 C2DX 探測器成像的樹花粉
· 槍擊殘留物(GSR)
· 油漆和玻璃分析
· 鈔票和硬幣偽造
· 頭發和纖維比較
· 法醫毒理學
在鎢碎片上固化的熔融玻璃表明在事故發生時燈泡處于活動狀態
C2D 探測器在可變壓力模式下對不導電樣品的優異成像, 非常適合用于法醫纖維的比較
槍支套管上的撞針的標記可以用來幫助識別所使用的武器
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