產品名稱:ICP感應耦合等離子刻蝕機
型號:ICP-RIE Plasma Etcher SI 500
SI 500-300用于最大200 mm x200 mm 的方片,特別適合石英光柵、微透鏡的刻蝕
SI 500為研發和小批量生產應用提供先進的ICP刻蝕工藝,具備高度的靈活性和模塊化設計特點。
SI 500的主要應用:SI 500通過感應耦合(ICP)方式產生高密度等離子體,按掩膜(例如介質掩膜、光刻膠掩膜或金屬掩膜)圖形、實現范圍廣泛的刻蝕工藝,包括對寬禁帶化合物半導體(例如SiC等)、III-V族化合物(例如GaAs、InP、GaN、InSb等)、II-VI族化合物(例如HgCdTe等)、介質、石英、玻璃、硅 和硅化合物(例如SiGe)等材料的選擇性刻蝕。
SI 500的主要特點:包括平板式ICP感應耦合等離子 體源、下電極動態溫度控制、高傳導真空系統、多 尺寸樣片間的靈活切換、遠程現場控制器RFC控制原理。
SENTECH的平板三螺旋天線(PTSA)ICP源高效 率地將ICP射頻功率耦合到等離子體、能生成完全 的感性耦合的高密度等離子體(自由基、離子、電 子),可工作在低壓力、刻蝕時樣品襯底上具有極 低的直流自偏壓,實現低損傷刻蝕工藝,例如量子點和量子線刻蝕。
SI500可實現的先進工藝應用,還包括低等離子功率時的高深寬比刻蝕工藝(例如用100W射頻功率刻蝕光子晶體)、GaAs和SiC中的通孔刻蝕、以及在石英和玻璃上的微透鏡刻蝕等。
SI 500通過增加DRIE模塊,還可實現深硅刻蝕。
SENTECH等離子工藝設備均在潔凈室內制造。高 效裝配、高產能和清潔環境,為SENTECH用戶帶 來了高質量、高可靠性的設備。
SENTECH通過專業的、受過良好培訓的工程師團隊、為全球用戶提供良好的本地化服務、快速的售 后服務響應、以及全面和長期的技術支持。
主要特點與核心指標
■ 加工尺寸:最大6英寸直徑晶圓、向下兼 容4英寸和更小的晶圓片或不規則碎片
■ 采用平板三螺旋天線,通過電介質板、將 射頻功率耦合到等離子體中
■ 最高等離子體密度可到1E12 cm-3 上、下電極間的距離可電動調節反應腔室:本底真空≤ 1E-6 mbar,真 空漏率≤ 2E - 4 mbar · l/s
■ 下電極溫度控制:溫度控制范圍-20°℃~+200°℃,溫度控制精度±1°℃
■ 集成式氣路柜,質量流量計MFC與反應腔室間的距離不超過150 cm,可以實現工藝氣體的快速切換
■ 激光終點檢測器:激光波長670 nm,測量速度<1 s,帶x-y電動位移,行程范圍25 mm x 25 mm
■ 預真空室位于反應腔室的外側,實現“穿墻式”安裝
科研設備丨半導體材料丨高精度檢測丨清潔度檢測丨激光刻蝕丨光柵刻蝕丨離子刻蝕丨等離子清洗丨半導體檢驗丨蔡司電鏡丨材料科研丨二維刻蝕丨傾角刻蝕丨3維超景深丨掃描電鏡丨失效分析丨共聚焦顯微鏡 XML地圖